esdcdm規格

Ecdm系列是一款性價比高且手動控制的臺式ESD模擬器。通過更換外部探頭或適配器，每個ESD事件（例如人體帶電放電模型（HBM），設備帶電放電模型（MM）和元器件帶電放電 ...,該系統可包括128或256針的全針組合ESD測試功能，以及多達4個Vcc的供應延遲測試能力，以及符合JEDEC標準的CDM測試，可選擇滿足ESDA或JEITA標準。型號1100E:支援HBM和MMESD ...,2018年8月22日—元件充電模式(CDM)的靜電放電(ESD)被視為象徵ESD充電和快速放電...

參考資訊如下
CDM HBM MM手動抗靜電能力測試儀

Ecdm系列是一款性價比高且手動控制的臺式ESD模擬器。通過更換外部探頭或適配器，每個ESD事件（例如人體帶電放電模型（HBM），設備帶電放電模型（MM）和元器件帶電放電 ...

ESDCDMLatch-UP抗靜電能力測試系統

該系統可包括128或256針的全針組合ESD測試功能，以及多達4個Vcc的供應延遲測試能力，以及符合JEDEC標準的CDM測試，可選擇滿足ESDA或JEITA標準。 型號1100E:支援HBM和MM ESD ...

元件充電測試新標準克服ESD挑戰

2018年8月22日 — 元件充電模式(CDM)的靜電放電(ESD)被視為象徵ESD充電和快速放電的首要實際ESD模型，能夠恰如其份地表現當今自動化處理設備用於製造和裝配IC時所發生的 ...

半导体器件的ESD测试带电器件模型（CDM）及静电敏感度分级

2022年11月26日 — CDM测试模拟装置在进行正式测试使用前，需要进行校验标定。校验用的标准测试组件（Standard Test modules）包括一小一大两个圆片（disk），其尺寸及特性 ...

半導體產品ESD靜電防護能力測試

充電放電測試(CDM，Charged Device Model)：此模式是指晶片先因磨擦或其他因素而在內部累積了靜電，但在靜電累積的過程中並未被損傷。當此帶有靜電的晶片在使用時，其pin腳 ...

新ANSIESDAJEDEC JS

元件充电模式(CDM) ESD被认为是代表ESD充电和快速放电的首要实际ESD模型，能够恰如其分地表示当今集成电路(IC)制造和装配中使用的自动处理设备所发生的情况。

機器放電模式之全晶片靜電放電防護

但是，在客. 戶端的測試結果，HBM > 4 kV，MM > 150 V，CDM > 600 V。而客戶要求的規格則是HBM >. 3 kV，MM > 250 V，CDM > 800 V。圖2 是原來晶片的 ...

静电放电概论

这些测试流程主要是针对两种ESD 事件模式：人体模型（HBM）和带. 电器件模型（CDM）。这些模型用于执行组件测试，无法含括所有可能的ESD 事件，且. 现场和测试系统间的放电 ...

靜電放電概論

ESD Industry Council White Paper 1: “A Case for Lowering Component Level HBM/MM. ESD Specifications and Requirements（降低組件級ESD CDM 規格及要求之案例）,”.